Une nouvelle methode AFM pour caracteriser les proprietes piezoelectriques de nanostructures : Application pour la recuperation d’energie a partir de nanofils

R. Hinchet, X. Xu, J.W. Lee, B. Bercu, A. Potie, T. Baron, B. Salem, R. Songmuang, G. Ardila, L. Montes, M. Mouis, “Une nouvelle methode AFM pour caracteriser les proprietes piezoelectriques de nanostructures : Application pour la recuperation d’energie a partir de nanofils“, JNRSE, October 14-15 2010, Paris, France, (Poster presentation).